官网动态

持续分享技术进展与应用实践

关注半导体辐射效应测试方法、器件应用、AccuRad产品和平台服务的最新进展。

内容分类

TID偏置条件专题：把器件状态写成可复现的测试条件

从样品—通道映射、设定值与实测值、工作模式和时间控制解释偏置为什么不是附属参数。

应用洞察2026-07-28

明确区分NTD材料掺杂、中子位移损伤和X射线总电离剂量三条不同路径。

产品更新2026-07-30

从样品、剂量学、偏置、测量和场地条件出发，说明TID-X系统配置应如何形成。

企业动态2026-07-30

明确需求澄清、方案确认、样品接收、测试执行、报告交付和复测服务的衔接方式。

预约测试

如需测试、器件研究、仪器配置或实验室建设，请提交去敏后的初步需求。